La_(1-x)Sr_xCoO_3体系的绝缘体-金属相变

摘要

通过粉末X射线衍射分析确定了钙钛矿氧化物La1-xSrxCoO3（0.1≤x≤0.5）体系的结构,由Rietveld方法拟合得到晶格参数随Sr掺杂量的变化.在80～300 K温度范围的直流电阻率测量表明,材料的电性质在x=0.2和x=0.3之间展示了从半导体到金属的相变.x=0.2样品已接近绝缘体-金属（I-M）相变的边缘.研究结果表明,La1-xSrxCoO3（0.1≤x≤0.5）体系的I-M相变不仅依赖于Sr浓度x,也依赖于样品的制备技术.