正电子湮没技术用于新型硫铝酸盐基无宏观缺陷水泥的研究

摘要

探索了正电子湮没技术(positron annihilation technique,PAT)测定硫铝酸盐基无宏观缺(macro-defect-free,MDF)水泥中微细孔的实验方法。结果表明:正电子湮没中等寿命成分(τ2≈330 Ps)的强度I2随水泥中微细孔(<250 A)等的增加而有规律地增大,因此可用I2的大小来表征硫铝酸盐基MDF水泥的密实程度和结构完整性。同时,还将实验结果与水银压入法(mercury instrusion porosimeter,MIP)测试结果进行了对比。