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郝跃; 赵天绪; 易婷;
西安电子科技大学微电子研究所;
缺陷; 故障诊断; 容错技术; 冗余单元; VLSI; 设计;
机译:在故障概率约束下使用数据压缩的VLSI系统设计中的容错-概述和当前状态
机译:最佳容错VLSI脉动阵列的设计
机译:VLSI阵列处理器的最佳容错设计方法
机译:水电厂分布式仿真系统容错模型的设计与实现
机译:缺陷和容错纳米计算系统的设计和分析。
机译:设计用于图像存档和通信系统的容错分布式档案
机译:容错VLsI设计的故障模型开发
机译:可靠性微控制器,微控制器中的缺陷检测方法,微控制器的容错系统设计方法以及计算机程序产品
机译:热喷墨缺陷容错电阻设计
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