等离子体相变硬化处理后的残余应力及残留奥氏体

摘要

采用X射线法测定了HT200灰铸铁等离子处理后表面至内部的残余应力及残留奥氏体量。结果表明,相变硬化后的表面层具有很高的残余压应力及大量的残留奥氏体。并指出,残余应力与残留奥氏体量及显微组织有关。