基于DBIST的IP核可测试设计实现

摘要

分析了全扫描和逻辑内置自测试这两种方法在芯片可测试设计应用中的利弊,并简要介绍了结合两者优点的DBIST方法和实现该方法的SynopsysSoCBIST工具。通过与全扫描产生结果的对比,指出了对IP核做可测试设计用DBIST方法所具备的测试时间短、测试文件小、测试覆盖率高、可做全速测试及易于在SoC系统中测试等显著优点。