基于参考向量和纠错编码的测试数据压缩算法

摘要

随着系统级芯片SoC的集成度越来越高,所需的测试数据量呈指数倍增长,针对测试数据量大这一关键问题,提出了一种有效的基于参考向量和纠错码编码的压缩方案,该方案对测试数据进行三步处理:对测试向量进行分块处理;按照特定的团划分方式选出参考向量;利用纠错码和测试数据相容性的特点对测试数据进行编码。提出的编码具有更短的码字,解压电路结构简单,与同类编码方法相比,该编码能将压缩效率提升至80%,并降低成本。