BaO-Al_2O_3-SiO_2微晶玻璃密度的计算

摘要

为了评估密度作为BaO-Al2O3-SiO2(BAS)微晶玻璃晶化热处理和质量监控手段的可行性和准确性,提出一种测定微晶玻璃密度的方法。利用X射线衍射和Rietveld结构精修法准确测定烧结制备的BAS微晶玻璃中各晶相的质量分数和密度,研究了加和法则应用于BAS系微晶玻璃的准确性。对比精修得到的晶相的晶胞参数和对应标准卡片上纯晶相的晶胞参数,得到样品中各晶相的密度。结果表明:BAS微晶玻璃中各晶相与对应纯晶相的密度差别极其微小。利用获得的各相的质量分数,根据玻璃工艺学的经验数据计算残余玻璃相的密度。最后,根据加和法则计算得到BAS微晶玻璃样品的密度,所得的密度值与利用Archimedes法测得的密度值的相对偏差小于1.4%。