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磁存储硬盘表面全氟聚醚衍生物润滑膜的X射线光电子能谱研究

         

摘要

利用 X P S分析了计算机硬盘表面全氟聚醚衍生物润滑膜的结构.结果表明,根据 X P S谱图中的 C1s 峰位可以分辨润滑剂化学结构式中各官能团;根据硬盘衬底的 C— O 基团和 P F P E的 F— O 基团的 O1s 峰强之比可以确定硬盘表面润滑膜的厚度;因工艺条件不同,膜厚处在1.5~6.0 nm

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