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庆祝XS分析天平荣获R＆D100大奖5周年梅特勒一托利多XP／XS分析天平“以旧换新”活动

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梅特勒一托利多XS分析天平自问世以来，受到了众多专家及用户的一致好评．并在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R＆D》颁发的R＆D100大奖，以此表彰梅特勒一托利多为称量技术的创新做出的卓越贡献!

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来源
《中国计量》 |2009年第11期|126-126|共1页
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正文语种 chi
中图分类轴系 ;
关键词
天平; 换新; 梅; 称量技术; RD;

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