X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份

摘要

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪(帕纳科公司)测定釉料中Fe2O3、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和PbO等组分含量。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,分析结果与化学法基本相符,除Na2O、MgO、CaO外,其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10%。