高精度相位特性测量系统设计与实现

摘要

元器件、模块和接收通道的相位特性(相-频特性、相位-温度特性等)是射频系统设计中需要考虑的一个重要指标;本文提出了一种基于带通采样定理,使用数据采集系统和数字信号处理方法的高精度相位特性测量系统,描述了该系统的设计方案和采用的相位检测方法,通过实际系统测量对系统的性能进行了验证。该系统在宽温度范围内可以测量工作频率在500MHz以下元器件、模块以及输出信号频率低于500MHz的接收通道的相位特性,亦可用于单频信号的高精度相位测量。实际测试结果表明测量分辨力可达到0.025度(RMS)。