单模光纤连接器反射损耗测量技术

摘要

本文主要介绍一种快速扭测量单模光纤连接器反射损耗或称回波损耗的测量技术,所用测量系统的测量重复性优于±0.5dB。同时,分析测量系统的误差,给出典型的实验数据。该测量系统可用于连接器研制过程中的精确测量,又可用于连接器生产中的产品的快速检验。