基于神经网络专家系统方法的测试产生系统

摘要

本文论述在微型机上实现的一种组合电路测试图形产生系统TES，该系统以神经网络专家系统方法为基础，通过对被测电路的结构进行分析，生成与电路对应的一种神经网络．并由Cauchy机获得故障的测试图形。本文同时也介绍了提高系统性能所采用的敏化通路，蕴涵结点，电路分块等策略。实验结果表明，TES系统界面友好，操作简便，能达到较高的故障覆盖率。