用双频栅测三维物体的形状

摘要

本文介绍了一种新的相位测量轮廓术 ,通过使用不同栅距的栅获得两幅包裹相位图 ,然后比较这两幅包裹相位图 ,求得物体上任一像素点的绝对相位值 ,从而确定物体上任一点的高度 .这种方法的优点是实验过程简单 ,精度高 ,相位的求解在整个过程中是单独进行的 ,不需借助相邻点 ,所以求得的相位值是各点的绝对相位 ,而且它可测量高度上中跳跃的物体的面形 .