首页> 中文期刊> 《电子测量技术》 >半自动测试仪的微机自动测控

半自动测试仪的微机自动测控

         

摘要

根据半自动测试仪的原理,本文提出了一种通过以IEEE—448接口程控技术为主,配合其它测控技术实现对半自动测试仪的微机自动测控,使之具有自动测试功能。介绍了一种基于这个原理的实例,实验结果表明这种方法是成功的。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号