Ni_(100-X)P_X纳米薄膜微观结构与磁性的研究

摘要

用化学沉淀法制备了纳米薄膜Ni100-XPX（X=2．40，2．89，3．21，3．60，4．64，5．45，7．64）系列样品。用Scherrer法计算出组成薄膜的颗粒的尺寸为7～15nm。利用振动样品磁强计测量了材料的磁学参数。对晶格常数、饱和磁化强度、居里温度与磷含量的关系进行了详细的分析。