一种基于相关处理的制冷CCD系统噪声评估方法

张加深; 金伟其; 刘广荣; 何玉青

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通过对CCD成像系统的噪声分析,从相关检测理论出发,提出制冷CCD成像系统噪声测量方法,该方法只需要对同一景物连续拍摄两帧图像就可快速计算出成像系统的噪声,可以实现对成像系统噪声的连续实时测量.测量结果表明:相关噪声测量方法可以克服或减小环境影响,测量过程简便易进行,有望成为光电成像系统,特别是制冷CCD成像系统噪声测量的有效方法.

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来源
《北京理工大学学报》 |2007年第8期|713-717|共5页
作者
张加深; 金伟其; 刘广荣; 何玉青;
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作者单位

北京理工大学信息科学技术学院光电工程系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类红外光学器件;
关键词
制冷CCD相机; 噪声评估; 相关检测;

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