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原遵东; 张俊祺; 赵军; 梁宇; 段宇宁;
中国计量科学研究院;
北京100013;
天津大学;
天津300072;
光谱发射率; 测量; 线性度; 双黑体法; 不确定度;
机译:高温下固体材料光谱发射率的测量装置
机译:开发用于同时测量表面半球反射率和垂直发射率的宽波长高速辐射光谱测量装置
机译:光谱红外区中材料和涂层的光谱方向发射率的测量
机译:使用FT-IR光谱仪的陶瓷光谱发射率测量装置
机译:使用半导体光源的精密测量:在偏振和光谱学中的应用
机译:低温下热控制材料的光谱发射率测量设备
机译:低温热控制材料的光谱发射率测量装置
机译:用于测量材料的正常光谱发射率的计算机控制装置。
机译:用于红外光谱分析的辅助装置,红外光谱分析系统和红外发射率测量方法
机译:光学特性测量装置,光学特性测量方法和双光谱发射率系数测量方法
机译:光学特性测量装置,光学特性测量方法和双光谱发射率因子测量方法
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