X射线荧光光谱法测定锆钇粉体中的Y_2O_3

摘要

采用粉末压片法,以X射线荧光光谱法对锆钇粉体中的Y2O3进行了测定;运用DJ数学模式进行干扰因素和基体效应的校正。所得分析结果的精密度和准确度可满足生产分析要求。