EEPROM 28C64和28C256的14MeV中子辐照特性

摘要

给出了 Ｅ Ｅ Ｐ Ｒ Ｏ Ｍ 器件的中子辐照实验结果，发现 ２８ Ｃ６４ 和 ２８ Ｃ２５６ 的 １４ Ｍ ｅ Ｖ 中子辐照效应不是以往所认为的单粒子效应，而是总剂量效应。器件出现的错误不是随机的，而是存在中子注量阈值；不同的错误有不同的阈值。在相同的中子注量下，加电的器件出现错误，而不加电的器件无错误；对于 ２８ Ｃ２５６，“０”→“１”错误比“１”→“０”错误容易发生；存贮单元由一种状态彻底变为相反状态之前的一段时间内，其状态是不确定的；停止辐照后，中子注量不再增加时，错误数仍在增加，说明是控制部件出错导致的。