PTFE多孔膜和典型薄膜驻极体电荷贮存寿命的比较研究

摘要

利用等温表面电位衰减和开路热剌激放电电流谱的测量等方法 ,系统地研究了经单向拉伸而形成孔径为 1～5μm,孔度为 5 0 %的聚四氟乙烯多孔膜的空间电荷贮存稳定性。并与在同等实验条件下的高密度 PTFE、FEP、Aclar PCTFE和 Kapton PI这 4种典型驻极体材料的电荷贮存寿命进行了对比研究。结果显示 ,PTFE多孔膜较PTFE和 FEP等驻极体材料有更优异的负电荷贮存稳定性 ,其常温负电荷的电荷贮存寿命可达 10