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陈超; 王党辉; 张盛兵; 王得利;
西北工业大学计算机学院;
ATPG; 全扫描; BIST; JTAG;
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机译:仪器III:微处理器的接管:现场数学,自动测试和便携式校准正逐渐推向微处理器解决方案
机译:微处理器测试:功能符合结构测试
机译:基于JTAG的微处理器测试结构设计
机译:辐射硬化微处理器,嵌入式闪存和测试结构的硅后验证。
机译:在具有经罚截肢的成人中进行了四种平方步骤测试:两种类型的微处理器膝盖之间的测试 - 保持性可靠性和判别有效性
机译:使用不同的测试仪评估S2爆米花家族的结合能力使用不同的测试仪评估S2爆米花家族的结合能力
机译:s2冷却逆变器/ p-66 /资格测试,土星计划测试重复,8月8日 - 1967年10月25日
机译:方法组件测试微处理器,测试预告片组件测试微处理器,工作方法测试预告片,构造测试预告片的方法
机译:在边界扫描测试中选择微控制器的微处理器的方法涉及从微处理器可执行的测试例程控制微处理器的JTAG接口
机译:微处理器测试设备用于制造过程中的质量控制测试,将测试矢量生成程序提供给微处理器片上存储器
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