关于控制器功能测试放电及校验装置的研究与应用

摘要

控制器在功能测试之后存在二次放电的隐患,极易导致控制器器件以及ICT二次复测设备损伤问题。本文在对控制器功能测试后1s内仍大于3V的电源点分析研究,设计出一款具有弱电电源模块、阻容模块及强电和通讯模块的放电装置,通过降低残余电压,避免质量隐患,并利用放电校验装置进行效果验证。