• 主题
高级搜索  >
历史搜索 清空历史
首页> 中文期刊> 《半导体技术》 >小功率晶体管参数测量原理与方法(一)

小功率晶体管参数测量原理与方法(一)

         
页面导航
  • 摘要
  • 著录项
  • 相似文献
  • 相关主题

摘要

＜正＞ 测试的目的首先是要求准确地反映器件的性能,提供电路设计使用.其次是通过器件的外部参数的测量为晶体管的内部参数提供根据,有利于改进半导体器件的制造工艺的结构.

著录项

  • 来源
    《半导体技术》 |1980年第4期|48-58|共11页
  • 作者

    维强;

  • 作者单位

    一四一三所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

  • 客服微信

  • 服务号