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半导体整流器件质量概念和可靠性论证的新发展

         
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摘要

＜正＞半导体整流器件的静态特性是建立在经典的pn结导电理论的基础上的.也就是说通过整流器件直流伏安特性可以定量分析其静态特性.

著录项

  • 来源
    《半导体技术 》 |1989年第1期|49-52|共4页
  • 作者

    孙家清;

  • 作者单位

    天津市第三半导体器件厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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