MSI优化测试码生成系统

摘要

本文简单介绍了一个SN74系列中规模集成电路优化测试码生成系统。该系统由三部分构成。测试码生成部分——生成电子的全部测试码;故障模拟部分——得出故障字典（测试码与所测故障的对应关系）;优化部分——从全部测试码中挑出能复盖电路中全部故障且个数最少的测试集。该系统已可提供使用。