WANG VS/CAT MOS LSI测试码生成系统

摘要

本文介绍了一个在WANG VS计算机上实现的MOS大规模集成电路测试码生成系统。该系统用经扩展的D算法生成测试码,并采用四值平行模拟算法进行故障模拟。该系统具有描述电路方便,操作简单,灵活以及易于扩充等特点。用该系统对5212和5G8255等芯片进行的测试码生成工作取得了较满意的结果。