三代微光管均匀性测试与分析

摘要

利用自行研制的“光电阴极多信息量测试系统”首次对国产三代微光管中的GaAs光电阴极的均匀性进行了光谱响应测试 ,结果表明该国产三代微光管存在明显的非均匀性。利用曲线拟合方法估算了GaAs光电阴极的材料性能参数 ,发现表面逸出概率不一致是非均匀性的主要原因 ,GaAs材料的少子扩散长度 （1 1 2～ 1 82 ） μm ,与阴极厚度相当 ,后界面复合速率在 （1× 1 0 5～ 1× 1 0 6 ）cm/s之间 ,它限制了阴极灵敏度的提高