首页> 中文期刊>半导体光电 >Zn-ZnO纳米结构的制备及退火条件对其光学性能的影响

Zn-ZnO纳米结构的制备及退火条件对其光学性能的影响

     

摘要

用电化学沉积方法在Si衬底上制备出Zn-ZnO纳米结构,并在空气中不同温度的条件下对其进行退火处理。分别用X射线衍射仪、扫描电子显微镜和荧光光度分光计对所得样品进行表征。通过对测试结果的分析和讨论发现,退火过程改变了Zn-ZnO纳米结构的物相、结构和晶体质量,进而改变了它的荧光性能。重点关注退火过程对样品紫外荧光峰的影响,并通过高斯拟合揭示了各条件下紫外荧光峰的发光机理。通过比较,800℃的退火条件能明显改善Zn-ZnO纳米结构的表面形貌和晶体质量,显著增强其紫外荧光峰的强度。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号