一种在芯片测试阶段进行产品规格区分的方法

摘要

介绍了逻辑电路IC芯片的两项重要参数(性能和功耗)与芯片的通用电源短路测试参数之间的强相关性。从而在IC芯片的量产阶段,利用晶圆测试阶段的通用电源短路参数进行分类的方法,来区分出不同性能和功耗规格要求的产品。在此基础上,根据通用电源短路参数的不同分类,在芯片内部的电熔丝里烧录不同的电压标识,使得芯片可以在系统上启动BIOS时通过读取该电压标识来决定运行芯片的电压大小,从而有助于优化产品的性能与功耗分布,进而提高产品的规格。