还原富钙CaGe:YIG薄膜铁磁共振谱中的分层体模

摘要

一、前言 磁性薄膜的铁磁共振谱测量是探测薄膜磁性物理的一个重要手段,由铁磁共振谱随外磁场与膜法线所成角度的变化及其温度特性,可提供丰富的有关薄膜各向异性、表面状况和体不均匀性等多方面的信息。