一种光电码盘缺陷检测方法的FPGA实现

摘要

光电码盘在实际研究和使用过程中遇到的质量问题,如码道有亮点或暗斑、码道间相位差误差过大等缺陷,会严重影响光电编码器的测量精度。提出一种新式码盘缺陷检测方法,通过FPGA仿真分析实现检测码道上亮点或暗斑位置以及各码道间的相位差,并确定相位差误差大小。通过实验仿真验证了所提出方法的有效性和可行性。