新生儿低血糖脑损伤的临床表现与危险因素研究

摘要

目的研究新生儿病例资料,分析新生儿低血糖脑损伤的临床特征及危险因素。方法对该院2012年8月~2014年8月诊治的110例新生儿低血糖病例资料进行分析,根据磁共振成像（MRI）、脑电图（EEG）结果,将发生脑损伤的19例新生儿纳入研究组,将无脑损伤的91例新生儿纳入无脑损伤组,比较两组对象的临床表现、血糖状况及围产期因素等,分析相关危险因素。结果研究组新生儿低血糖脑损伤MRI检查均表现为顶枕部皮层受累,其扩散加权成像（DWI）为高信号,15例T2WI为高信号,T1WI为低信号;多见肌肉张力减低、惊厥、呼吸异常,多有EEG异常。单因素分析显示,胎龄、妊娠期糖尿病、出生体质量、首次喂养时间、惊厥、血糖水平、低血糖持续时间、EEG与低血糖脑损伤有关（P〈0.05）。多因素回归分析显示,EEG异常、血糖水平≤1.5 mmol/L、低血糖持续时间〉24 h、惊厥与新生儿低血糖脑损伤有关。结论新生儿惊厥、EEG异常、血糖水平≤1.5 mmol/L、低血糖持续时间〉24 h是新生儿低血糖引发脑损伤的独立危险因素,应加强监测并进行早期干预,避免发生新生儿脑损伤,造成神经系统的后遗症。