膏状物材料导热系数和界面热阻稳态测量法

摘要

依据ASTM D-5470测试标准搭建稳态法测量装置,同时结合具有特殊结构的样品支架,可以实现膏状物材料导热系数及其与固体表面之间界面热阻的测量.样品支架上具有不同深度的凹槽,凹槽的深度决定了膏状物材料的厚度.利用稳态法测量装置测量试样的热阻,并计算相应凹槽区域的整体热阻,最后利用最小二乘法直线拟合的方式计算膏状物材料的导热系数和界面热阻.