利用电化学石英晶体微量天平EQCM和X射线光电子能谱XPS研究铁络合金中铬含量和扫描速率对钝化膜增长的影响

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• 来源
  《腐蚀与防护》|2003年第2期|91-92|共2页
• 作者

  邵本逑;

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• 作者单位

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 TG174.22;
• 关键词

  电化学; 石英晶体; 微量天平; EQCM; X射线光电子能谱; XPS; 铁络合金; 铬含量; 扫描速率; 钝化膜;