基于 ATE 的 FPGA 器件测试方案研究磁

摘要

在 FPGA 器件的测试领域，由于通用 ATE 的局限性，需要为 ATE 设计 FPGA 配置板。然而目前行业内通用的配置方案测试效率低、可移植性差，给 FPGA 器件测试程序的开发和测试都带来了很多不便。论文提出了一种新的 FP‐GA 多重自动配置技术，设计采用 FPGA 作为主控制器，大容量 FLASH 芯片用于存储目标 FPGA 的配置数据，具有大量存储、调取灵活、配置快速等优点，实现了 Xilinx 公司绝大部分不同型号的 FPGA 器件的多重、自动、快速重配置，有效地解决了原配置方案的弊端，提高了 FPGA 测试的效率。%In the field of FPGA testing ,it is indispensable to design FPGA configuration board as a result of the ATE shortage on function .However ,configuration boards in use are always inefficient and difficult to transplant ,which brings discomfort in exploitation of FPGA testing projects and FPGA testing process .A new FPGA auto‐configuration technology is put forward ,in which FPGA is used as controller and Flash is used to storage configuration data .This technology can be used in most FPGA devices of Xilinx ,which solves abuse of the last configuration ways and makes FPGA testing more effi‐cient .