测试码生成简述

摘要

测试码生成简述中国科学院计算所ＣＡＤ开放实验室梁业伟北京计算机学院一、测试基本概念数字电路的测试有电性能测试和逻辑测试。逻辑测试的目的是检查电路的逻辑性能是否完好，是否存在逻辑故障。逻辑性能不完好，有错误，则说明存在逻辑故障。这里谈的是逻辑性能，不是...