会议——安捷伦纳米技术与测量解决方案研讨会将首次在中国举行

摘要

安捷伦科技3月5日宣布将于2007年3月13日和15日分别在上海和北京，举办安捷伦首届纳米技术与测量解决方案研讨会。本次研讨会作为安捷伦在全球范围内，为纳米技术研究人员介绍测量产品的一个重要组成部分，将吸引来自国内各方面从事纳米技术研究相关人员的广泛参与。在此次研讨会上，安捷伦纳米技术方案经理Grant Drenkow将与参会者共同探讨纳米技术的全新发展方向。