基于置换理论的等级调制纠错码新构造方法

摘要

采用多重置换理论的等级调制纠错码可减少电位值波动引起的错误,有效对抗数据受到的干扰,达到较高的信息存储率,提高数据的可靠性.针对多级闪存有限强度错误的问题,提出了两种等级调制纠错码的代数构造方法,一种是采用直积的直接构造方法,另一种是通过已知置换集运算后再直积的间接构造方法,同时证明了构造的等级调制纠错码的基数和最小距离.提出的构造方法简单直观,易于编译码,且可通过计算实例验证构造方法的正确性.