集成电路动态老化测试系统中高速驱动板设计

摘要

随着大规模集成电路生产技术的迅猛发展,多引脚封装的芯片、大容量的存储器及大规模嵌入式微处理器的广泛应用,国内现有的集成电路动态老化测试系统已不能满足需求。该文针对FPGA/CPLD集成度高、设计灵活等优点,设计并实现了一种应用于新一代动态老化系统的高速驱动板系统。该系统以Altera公司的MAXII系列CPLD芯片EPM570T144I5N为核心。通过FPGA/CPLD软硬件平台验证,该系统各个模块均工作正常,并能满足驱动能力的需求。