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集成电路老化测试系统的数据通信接口设计

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新一代大规模集成电路高温动态老化系统的设计是近年来研究的热点.该文以现场可编程逻辑门阵列作为核心平台,通过高速数据接口,将上位机中的数据传输到老化测试芯片中,同时把老化过程中的相关数据反馈回上位机.通过FPGA软硬件平台验证表明,该数据通信接口设计能够很好地完成集成芯片的老化过程,较传统的静态老化系统有很大的改进和提高.

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来源
《浙江省信号处理学会2014学术年会》|2014年|129-132|共4页
会议地点杭州
作者
ZHANG Fuhong; 张福洪; HU Shunfeng; 胡舜峰;
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作者单位

浙江省信号处理学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 动态老化测试系统; 数据通信; 接口设计; 现场可编程逻辑门阵列;
入库时间 2022-08-17 10:33:23

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