84枚支抗种植体周围颧牙槽嵴区解剖结构的锥形束CT分析

摘要

目的通过锥形束CT测量支抗种植体患者颧牙槽嵴区软硬组织结构,为支抗种植体在上颌后牙区的应用提供参考。方法收集2014年1月至2016年12月于首都医科大学附属北京友谊医院口腔科就诊、并于颧牙槽嵴植入支抗种植体的成年正畸患者43例,收集84枚支抗种植体及其周围组织（84侧上颌窦）的锥形束CT影像,测量支抗种植体颊腭侧骨厚度和骨松质厚度、上颌窦底黏膜厚度,计算骨皮质厚度,观察上颌窦是否存在骨分隔及上颌窦底反折,并在上颌第一磨牙近中10 mm、近中5mm、正中、远中5 mm和远中10mm的冠状面测量上颌窦底角度。结果颧牙槽嵴支抗种植体的颊侧和腭侧骨厚度[M(Q25,Q75)]分别为2.5（1.5,3.2）和5.2（4.0,6.4）mm,而骨皮质厚度分别为2.1（1.3,2.8）和1.5（1.0,1.9）mm,上颌窦底骨分隔和窦底反折的比例分别为33%（28/84）和45%（38/84）。上颌第一磨牙正中冠状面的上颌窦底角度最大（71.6°±15.6°）;近中10 mm冠状面的上颌窦底角度最小（46.1°±18.0°）,此处20%（16/82）上颌窦底角度＜30°。结论颧牙槽嵴外侧骨皮质联合上颌窦底骨皮质,可为支抗种植体初期稳定性提供保障,邻近区域的上颂窦底反折等个体差异提示临床医师植入支抗种植体时需谨慎考虑植入角度和深度,避免损伤上颌窦。