电弧-AES法测定金属硅中12个杂质元素

摘要

用直流电弧粉末法在氩气气氛中摄谱，消除硅带干扰，采用铍为内标，直接测定金属硅中１２个杂质元素，此法较化学光谱法具有操作简便、快速，试剂耗量少；较化学法和分光光度法更加优越，能同时测定１２个元素，更能反映金属硅的真实含量。