首页> 中文期刊> 《光谱实验室》 >应用小型X射线荧光光谱仪快速测定钾长石的化学成份

应用小型X射线荧光光谱仪快速测定钾长石的化学成份

         

摘要

本文采用粉末压片法制样, 用小型多道波长色散X射线荧光光谱仪测定钾长石中的SiO2、Al2O3、CaO、MgO、Fe2O3、K2O、Na2O.测定准确度、精密度较好,所得结果满足化学分析误差要求,能完全替代化学分析,将一个钾长石作全分析整个过程只需30min.本法快速、简便,结果令人满意.

著录项

  • 来源
    《光谱实验室》 |2000年第5期|596-598|共3页
  • 作者单位

    洛阳玻璃股份有限公司技术部,河南省洛阳市唐宫路9号,471009;

    洛阳玻璃股份有限公司技术部,河南省洛阳市唐宫路9号,471009;

    洛阳玻璃股份有限公司技术部,河南省洛阳市唐宫路9号,471009;

    洛阳玻璃股份有限公司技术部,河南省洛阳市唐宫路9号,471009;

    洛阳玻璃股份有限公司技术部,河南省洛阳市唐宫路9号,471009;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 X射线荧光分析法;
  • 关键词

    小型; XRF; 粉末压片; 钾长石;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号