粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用

摘要

应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线.经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024％,尾矿偏差小于±0.004％,精矿偏差不大于±0.127％；相对标准偏差(n=9)≤1.76％.大量实验数据表明,粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定流程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控.