首页> 中文期刊> 《空间科学学报》 >利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法

利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法

         

摘要

由武汉电离层观象台实测的电离层F2层临界频率f0F2、3000km传播因子M(3000)F2的月中值资料,统计分析分别得出它们的经验模式,模式结果能够较好地再现这些参数的观测值.利用f0F2、M(3000)F2以及TEC的经验模式,获得F2层的峰值参数,输入到电子浓度的Chapman α函数中,推断出了电子浓度的高度剖面;将剖面在一定的高度范围内积分,得到该区域内的电子含量并与实际观测TEC相比较,结果表明,在100一1000 km高度范围内积分的电子含量与观测结果能够较好的符合.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号