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Hoffman脑模型用于SPECT脑断层有关技术因素的探讨

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Ｈｏｆｍａｎ脑模型用于ＳＰＥＣＴ脑断层有关技术因素的探讨管一晖赵晋华林祥通刘兴党张锦明Ｈｏｆｍａｎ脑模型是判断脑断层显像质量的重要方法之一，本文拟从模型测试ＳＰＥＣＴ性能着手，探讨临床脑ＳＰＥＣＴ显像常遇到的若干技术影响因素，以利提高显像质量。材料与...

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来源
《中华核医学杂志》 |1998年第2期|108-108|共1页
作者
管一晖; 赵晋华; 林祥通; 刘兴党; 张锦明;
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作者单位

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正文语种 chi
中图分类头颅及神经系;
关键词
Hoffman脑模型; SPECT; 脑断层显像;

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