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基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测

         

摘要

提出一种基于有效背景重构和对比度增强的Mura缺陷检测方法.首先,提出了一种新的基于缺陷区域预剔除的背景重构方法,能够有效地重构背景图像,消除图像亮度不均等干扰.然后,引入了基于Otsu的双γ分段指数变换法对差分图像进行增强处理,能够有效解决背景残余问题且极大增强了Mura区域的对比度和轮廓度.最后,直接运用动态阈值分割方法,可以快速准确地将Mura缺陷分离出来.实验结果表明,与传统的多项式曲面拟合方法以及离散余弦变换法相比,本文方法对各种类型的Mura缺陷检测效果稳定,且检出率和无误报率均达到了97%以上.

著录项

  • 来源
    《液晶与显示》 |2021年第10期|1395-1402|共8页
  • 作者单位

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

    广东省微纳光机电工程重点实验室 深圳518118;

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

    深圳技术大学中德智能制造学院 深圳518118;

    广东省先进光学精密制造重点实验室 深圳518118;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 液晶显示器件;
  • 关键词

    TFT-LCD; Mura缺陷检测; 背景重构; 分段指数变换;

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