高温竖向串扰发生机理的定量研究

摘要

为快速解决大尺寸薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品中的高温竖向串扰(V-CT)不良,本文研究了漏电流与V-CT现象间的定量关系,用以指导TFT特性相关工艺的调整.首先,基于V-CT电压梯度曲线及TFT开关实际工作状态下的漏电流,建立了一种定量表征漏电流的大小和V-CT严重程度间关系的测试方法.然后,应用此方法对客户端评测画面(CT-SEC)下发生的高温V-CT进行研究,实验结果表明:V-CT电压梯度曲线可以较好地匹配总体漏电流I off_total渐变规律.高温初始及长期信赖性评价条件下,V-CT不良的发生同显示面板面内的光照漏电流I off(V gl _ GOUT-V pixel _255－ )强相关.