三基发射药干燥过程总挥含量的快速检测方法

摘要

采用近红外光谱法快速测定了三基发射药干燥过程的总挥(醇酮溶剂)含量;通过对比三基发射药药粒样品及总挥的光谱图特点,确定了总挥最佳建模光谱范围;对三基发射药样品的光谱图进行预处理,对比了不同光谱预处理方法的效果,最终确定了最佳光谱预处理方法;采用偏最小二乘法建立了三基发射药样品总挥的校正模型,最终选择总挥建模的最佳主因子数为8,并对模型的预测能力进行了验证.结果表明,确定的最优建模光谱区间为5700～6100cm-1,最佳光谱预处理方法为一阶导数+SNV的组合,总挥含量模型的校正决定系数(R2C)为0.9703,校正均方根误差(RMSEC)为0.1497;预测决定系数(R2P)为0.9628,预测均方根误差(RMSEP)为0.1879;验证集标准偏差与预测标准偏差的比值(RPD)为6.7;将该模型应用到三基发射药干燥过程总挥含量的检测,预测平均偏差为0.025％,建立的总挥模型具有较好的预测性和重复性,在60 s内可实现三基发射药干燥过程总挥含量的准确检测.